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Ahora dispone de acceso a Seguimiento de FOUP en el proceso de producción de semiconductores

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El seguimiento de las cápsulas unificadas de apertura frontal (FOUP) en la producción de semiconductores es importante para el control de la contaminación, la optimización de procesos, la mejora del rendimiento, el control de calidad y el cumplimiento de la normativa pertinente. Garantiza la protección de las obleas, optimiza el flujo de trabajo, mejora el rendimiento y mantiene la calidad.

Uso: trazabilidad de FOUP

Realizar un seguimiento eficiente de las cápsulas unificadas de apertura frontal (FOUP) en la producción de semiconductores puede resultar empresa complicada debido a la complejidad de gestionar numerosas cápsulas y grandes cantidades de datos, integrarse con los sistemas existentes, garantizar la exactitud de la automatización, abordar las cuestiones medioambientales y cumplir con las normas del sector.

Nuestra solución: RFID para una trazabilidad total del proceso

La tecnología de RFID de OMRON ofrece características especializadas para usos con semiconductores, como resistencia química, compatibilidad con transpondedores de vidrio estandarizados de Texas Instruments (de lectura y escritura) y compatibilidad con el protocolo SECS I/II.

Esta solución avanzada es compatible con cinco normas de SEMI y SECS/GEM, lo que garantiza un manejo uniforme de las FOUP y otras cápsulas en plantas de semiconductores. Diseñado específicamente para SEMI, esta tecnología mejora la protección de los discos, optimiza el flujo de trabajo y aumenta el rendimiento y la calidad.

Tecnologías con un alto potencial

V640 SEMI

Los trabajos en semiconductores necesitan de características especiales del producto en lo tocante a resistencia química y protocolo para sistemas de identificación. La unidad V640 de OMRON puede comunicarse, por ejemplo, con transpondedores de vidrio estandarizados de Texas Instruments y también con el protocolo SECS I/II.

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